SATA 지적 시험 장비 칩 인식 시험 기계

SATA 지적 시험 장비 칩 인식 시험 기계

키특성 :

1. SATA 제품의 검사를 지원하세요 ;

2. 예를 들어 96개 부분, 124개 부분, 196개 부분, 256개 부분, 기타 등등인 SATA에 대해 생산된 시험편의 수의 특화를 지원하세요 ;

3. 극소이고 작은 특화, 예를 들어 6, 12, 18, 기타 등등의 개발을 지원하세요 ;

4. (+180 급에 대한 -70 도) 테스트를 지원하세요 ;

5. 비정상이 강국 고장 시험과 장기간 시험을 지원하세요 ;

6. 자동화된 온도 제어 시험을 지원하세요 ;

7. 소프트웨어를 사용하여 모든 핵실험의 지능적 제어를 지원하세요 ;

8. 시험 소프트웨어의 주문제작을 지원하세요 ;

9. 회의실에서 대기 속도와 온도 평형화를 지원하세요 ;

10. 고속 온도 상승과 하락 제어를 지원하세요 ;

11. SATA 노화의 주문 제작된 발전을 지원하세요 ;

12. 검사의 오프사이트 제어와 테스트 결과의 보기를 허락하면서, 네트워크된 컨트롤을 지원하세요 ;

13. APP 리모콘 테스트를 지원하세요 ;

기계의 주성분 :

1. 완전한 시험 시스템은 높고 낮온도 챔버, 시험 PC 메인보드, 베이스보드와 PM 위원회, ESD 테스트 지그, 전송 데이터 케이블 케이블, ESD 앞과 뒤쪽 격리된 섬유 패널, 터치 스크린 운영 플랫폼 메인프레임, 고객용 봉함용플러그, ESD 앞 PC 메인보드 입지, 스페셜 테스트 전원 공급기, FPGA 위원회, 등으로 구성됩니다.

주요 하드웨어 구성 요소 :

1. 테스트 PC 테스트 메인보드 ;
2. 베이스보드는 탑니다 ;
3. 완전한 기계 회로와 전원 제어 성분 ;
4. 안티 스태틱 제품을 위한 ESD 테스트 지그 ;
5. 섬유 시이트를 격리하는 ESD 대전 방지 전방 및 후방 ;
6. 높고 저온 저항을 위한 실리콘 밀봉 ;
7. ESD 대전 방지 전면 컴퓨터 마더 랙 ;
8. 전송 데이터 케이블 케이블 ;
9. 스페셜 테스트 전원 공급기 ;
10. 기가비트 전환 ;
11. 콘솔 호스트.

소프트웨어와 하드웨어 섹션의 주성분 :

1. 테스트 PC : 메인보드, CPU, HDD, 하드 디스크와 전원 공급기를 포함하는 1개 세트. 핵실험 PC 하드웨어는 주로 다음과 같은 PCT, 비트, MDT와 FDS에 따라 구성됩니다 ;
2. 위로하세요 : 일련의 전체 시험 PC 작전을 제어할 수 있는 고품질 터치 PC 호스트들이 시험을 위한 제어 인터페이스이고, 시험 커맨드와 구성 스크립트를 보내는데 사용되고, 시험의 지휘센터입니다 ;

SSD SATA 지적 하드웨어와 소프트웨어 통합 테스트 시스템에 대한 기술 :

1. 피코이에 SSD 지적 시험 시스템은 Win10 운영 체제 플랫폼을 기반으로 합니다. 열린 스크립팅 모드를 통하여, 여고와 저온 챔버의 온도와 PCIE 제품의 테스트 항목은 뜻대로 변경될 수 있고 데이터가 노사, 지적 데이터 관리와 테스트 결과의 영구 보존을 구하면서, 원-클릭 운영, 네트워크 제어를 달성하기 위해 리눅스 시스템과 도로 도유기를 통하여 이동될 수 있습니다.
2. 하드웨어와 소프트웨어와 메커니즘 설계를 포함하여 그것은 SSDPCIE의 신뢰성과 장기간 안정성을 위해 설계됩니다, 목표는 더 탄력적인 가능한, 테스트 구성 품목과 더 이용 가능한 시험 채널과 저장 공간만큼 자동화된 시험을 만드는 것입니다.

시스템 특징

1. PCBA와 정착물은 수많은 PC 보드에 대한 몇몇과의 맞춘 챔버에 격납됩니다 (챔버, SSD 확인을 위한 작은 챔버와 SSD 생산을 위한 큰 챔버의 크기에 따라서). 이것은 공간을 저장하고, 시험될 위원회의 숫자를 증가시킵니다 (여러가지 세트가 쉽게 구축될 수 있습니다).
2. SATA2.0과 SATA3.0 타입 SSD를 지원하면서, 한 PC 메인보드는 연결되고 동시에 6 SATA SSD로 테스트될 수 있습니다.
3. 커스텀기즈러블 linux와 windows는 소프트웨어를 테스트합니다, 테스트 내용이 1 또는 더 많은 스크립트 파일에 의해 구성될 수 있습니다. 다양한 전력 고장 시험, 번-인-테스트, 소비 전력 검사 시험, 등을 지원합니다.
4. 윈도우 ＰＣ는 이더넷을 통해 여러 시험 시스템 PC에 연결될 수 있고 윈도우 측면 위의 스크립트 편집이 자동적으로 방의 온도를 제어하고 다수 테스트 항목을 수행하는데 사용될 수 있습니다.
5. SSD 소비 전력 측정과 점검을 지원하세요.
6. 그것의 UART 공항을 통하여 각각 SSD 시험 대상에 의해 보내진 모든 메세지를 수집하기 위해 UART 로그 함수를 지원합니다 (SSD 설계가 특정한 핀 골드휭거에 대한 UART 신호의 접합부를 지원하여야 합니다).
7. 관습 리눅스 시험 소프트웨어는 USB 인터 페이스를 통해 이사회에 연결됩니다.

Power Cycling Test:

1. 본 시험의 주된 목적은 스포르가 적당히 일하고 있다는 것을 검증하는 것입니다. 이것은 보통 다음과 같은 전원을 내림 핵실험을 포함됩니다.
2. 결국 SSD 기록 명령은 완료되었습니다, PC가 대기 즉각 명령을 내리고, 그리고 나서 전원을 끕니다. 이것은 NOPLP 캡 SSD에 대해 사용됩니다.
3. 결국 스스드라이트 명령은 완료됩니다, PC가 바로 떨어져서 강화됩니다. 다시 전원을 켠 후, 지난 정전 전에 작성된 모든 데이터는 비교되어야 합니다.
4. 라이트커맨드가 여전히 진행 중인 동안 (스포르는) 끕니다. 다시 전원을 켠 후, 지난 정전 전에 작성된 모든 데이터는 비교될 필요가 있습니다.
5. 기입 SSD에 의해 사용된 프로그램 수행 스레드가 카운트다운 스레드와 관련되지 않는다고, 그래서 임의적 전원차단은 보증됩니다.
6. 전력 소비 테스트.
7. 시험은 읽기 동안 소비를 강화하고, 쓰고 전력 배고픈 SSD를 선발되기 위해 공전합니다.
8. 작업 검사.
9. 시험은 비정상이 SSD를 선발되기 위해 성능을 읽고 작성합니다.
10. 번 인 테스트.
11. 윈도우 번-인-테스트 LBA 모드 검사와 유사하게, 7 패턴은 이용 가능합니다.

테스트 PC 기술 :

1. 실험 PC는 주로 SSD 전력 손실, 대중 읽기 / 쓰기 비교, 가득 찬 디스크 판독 / 기입, 특정한 패턴과 미디어을 판단하는 장기간 시험, 새로운 불량 블록의 통계와 프로토콜 시험을 시험하는데 사용됩니다, 기타 등등 실험 PCT가 주로 다음의 카테고리로 분할됩니다 : PCT, 비트, MDT와 FDS.
2. PCT (강국 사이클링 테스트) : 비정상이 전력 손실 동안 데이터의 완전성을 검증하는 전력 손실 처리와 SSD 알고리즘의 재건을 시험한 다양한 패턴 비정상이 전력 손실량 시험.
3. 비트 (번 인 테스트) : 다양한 패턴이 연속적으로 또는 무작위로 작성된 /와 미디어 위의 다양한 패턴의 영향을 읽어준다는 것을 검증합니다.
4. MDT (다중 구동 테스트) : SSD가 ATA1-8 상술에 대한 명령을 지원하고, 지원받는 명령을 SSD에게 보내고 결과가 아니오 가지고 있다는 것을 검증한다는 것을 검증합니다
5. 결과는 어떠한 문제으로도 증명될 것입니다.
6. FDS (가득 찬 구동 스캔) : 매핑 테이블이 정확하다는 것을 검증하기 위한 SSD을 전속력으로 읽기와 기록 작업 ;

테스트 PC 상세한 특징 :

1. PCT 강국 사이클링 테스트

1. 다양한 패턴의 구성 ;
2. 읽기 / 기입 데이터 크기의 구성 ;
3. 순차적 대 무작위 판독 / 쓰기 비교 구성 ;
4. 정상적 파워-오프 데이터 무결성 대 비정상이 파워-오프에 대한 확인 ;
5. 전원공급과 전원 끄기 시간을 제어하기 위해 스크립트를 쓰기 ;
6. LBA를 위한 데이터 판독 / 기록 작업을 상세화하기 ;
7. 전원 끄기 처리와 재건을 위한 테스트 SSD 알고리즘 ;
8. UPS 안정성과 용량성 부하 수요 값을 시험하기 ;
9. 디스크 부팅 시간의 테스트 ;
10. 상품의 전원관리의 안정을 시험하는 것 작용합니다 ;
11. 시험 디스크의 시험 UPS 노화 ;
12. 높고 낮온도에 납땜하기 위한 보드-레벨 전자 부품의 검사 ;
13. 시장에서 SSD 제품의 정전 보호를 검증하기 위해 그것을 사용하는 가능성
14. 다양한 메인보드와의 SSD 호환성에 대한 확인 ;
15. 정비에 대한 확인 ;
16. 검사 기록과 정규적 업로드의 자동 저장 ;

1. 비트 번 인 테스트

1. 순차 독출 / 기입 정합의 확인과 다양한 패턴에 대한 성능 ;
2. 무작위 판독 / 쓰기 비교에 대한 확인과 다양한 패턴에 대한 성능 ;
3. 미디어 위의 다양한 패턴의 영향 위의 통계 ;
4. 다양한 패턴 제품의 나이든 검사 ;
5. 모든 패턴의 가득 차고 시험 자동화 ;
6. 섹터 카운트와 패턴은 스크립트를 쓸 수 있습니다 ;
7. 읽기 / 쓰기 비교 확인을 위한 테스트 시간은 설정될 수 있습니다 ;
8. 계산합니다 테스트 동안 새로운 불량 블록의 ;
9. 제품의 전체 기능을 시험하기 위해 프레임 크기를 상세화하세요 ;
10. 순간적이어 DDR 사이에 자료 경로와 인터페이스에 대한 확인 ;
11. SSD 무작위 판독 / 쓰기 성능 안정성에 대한 확인 ;
12. 일정한 간격으로 자동적으로 검사 기록을 구하고 그들을 업로드하세요 ;

1. MDT 멀티 구동 테스트

1. 쉽게 잘 믿은 섹터 번호 ;
2. LBA28과 LBA48은 쉽게 잘 믿습니다 ;
3. 제품의 인터페이스의 호환성에 대한 확인은 초안을 작성합니다 ;
4. 생산의 것 검증은 프로토콜과 그것의 통계에 명시된 명령을 지원합니다 ;
5. 제품에 관한 적절한 테스트를 수행하기 위해 지휘를 상세화하는 가능성 ;
6. 데이터 커맨드를 위한 읽기 / 기록 작업과 데이터의 비교에 대한 확인 ;
7. 무데이터 명령 지원에 대한 확인 ;
8. 검사 기록과 정규적 업로드의 자동 저장 ;

1. FDS 가득 찬 구동 스캔

1. 디스크 매핑 테이블의 정확성을 검증하고 비교 동작을 수행하기 위한 풀디스크 읽기와 기록 작업 ;
2. 패턴과 섹터 번호는 쉽게 잘 믿습니다 ;
3. 읽기 / 기록 작업을 위한 쉽게 잘 믿는 타이밍 ;
4. 불량 블록과 약한 블록을 위한 플래시에 대한 선별 ;
5. 플래시의 모든 블록에 대한 DDR의 확인 ;
6. SSD 알고리즘 매핑 테이블이 정확하다는 것을 검증하세요 ;
7. 검사 기록과 정규적 업 로딩의 자동 저장 ;

우리에 대하여 :